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描述：X射線微劑量安檢機(jī)測(cè)試體GB 15208.2-2018測(cè)試體包括測(cè)試體A 和測(cè)試體B。 測(cè)試體A為圖像解析度測(cè)試體，用于測(cè)試設(shè)備的線分辨力、穿透分辨力、空間分辨力和穿透力；測(cè)試體 B 為材料分辨測(cè)試體，用于測(cè)試設(shè)備的有機(jī)物分辨、灰度分辨、混合物分辨、無(wú)機(jī)物分辨、材料分辨和有效材料分辨。 測(cè)試體內(nèi)包含測(cè)試卡。測(cè)試卡安裝在測(cè)試體內(nèi)的固定板上，并用上，下防護(hù)襯板封裝成一長(zhǎng)方形的測(cè)試體。 測(cè)試體的防護(hù)襯
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產(chǎn)品型號(hào)：02/
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家03/
更新時(shí)間：2024-09-0204/
訪問(wèn)量：113公司產(chǎn)品系列
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| 品牌 | 京南雙玉 | 產(chǎn)地 | 國(guó)產(chǎn) |
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X射線微劑量安檢機(jī)測(cè)試體GB 15208.2-2018
產(chǎn)品名稱(chēng)： X射線微劑量安檢機(jī)測(cè)試體GB 15208.2-2018
產(chǎn)品編號(hào)：20240901-05
產(chǎn)品廠家：廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司，生產(chǎn)加工： X射線微劑量安檢機(jī)測(cè)試體GB 15208.2-2018、安檢機(jī)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)箱、工業(yè)CT測(cè)試體、安檢機(jī)檢測(cè)模體、
產(chǎn)品介紹：.產(chǎn)品介紹 測(cè)試體包括測(cè)試體A 和測(cè)試體B。 測(cè)試體A為圖像解析度測(cè)試體，用于測(cè)試設(shè)備的線分辨力、穿透分辨力、空間分辨力和穿透力；測(cè)試體 B 為材料分辨測(cè)試體，用于測(cè)試設(shè)備的有機(jī)物分辨、灰度分辨、混合物分辨、無(wú)機(jī)物分辨、材料分辨和有效材料分辨。 測(cè)試體內(nèi)包含測(cè)試卡。測(cè)試卡安裝在測(cè)試體內(nèi)的固定板上，并用上，下防護(hù)襯板封裝成一長(zhǎng)方形的測(cè)試體。 測(cè)試體的防護(hù)襯板采用原色發(fā)泡聚乙烯板，密度為0.015g/cm3~0.025g/cm3。圖A.1. 測(cè)試體 A 外形圖2.1.概述 測(cè)試體A 包括4種測(cè)試卡：線分辨力測(cè)試卡(TEST1)、穿透分辨力測(cè)試卡(TEST2)、空間分辨力測(cè)試卡(TEST3) 和穿透力測(cè)試卡(TEST4) 。 測(cè)試體 A 的結(jié)構(gòu)及尺寸見(jiàn)圖 A.1～圖 A.6。測(cè)試卡1(TEST1)和測(cè)試卡2(TEST2) 測(cè)試卡1和測(cè)試卡2為組合測(cè)試卡。測(cè)試卡1為線分辨力測(cè)試卡，測(cè)試卡2為穿透分辨力測(cè)試卡，分別用于測(cè)試設(shè)備的線分辨力和穿透分辨力。 測(cè)試卡1 由一組正弦曲線形單根實(shí)芯銅線和鉛字組成；測(cè)試卡2由合金鋁階梯(5A02)、一組正弦 曲線形單根實(shí)芯銅線和鉛字組成。這些銅線用兩層厚度為0.1 mm 的聚酯薄膜板夾緊固定，鋁階梯在測(cè)試卡的最上層，與聚酯薄膜板固定在一起，詳見(jiàn)圖 A.7～圖A.8。單根實(shí)芯銅線的編號(hào)和直徑對(duì)應(yīng)關(guān)系見(jiàn)表 A.1。 測(cè)試卡1和測(cè)試卡2的銅線排列順序、擺放位置和方向可進(jìn)行調(diào)整，圖示僅為一種可能。
運(yùn)輸包裝：廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司，生產(chǎn)加工： X射線微劑量安檢機(jī)測(cè)試體GB 15208.2-2018、安檢機(jī)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)箱、工業(yè)CT測(cè)試體、安檢機(jī)檢測(cè)模體
產(chǎn)品編號(hào)：20240901-05
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