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低對比度檢測試驗模體

描述：低對比度檢測模體，技術參數(shù):1、尺寸:265x265x10mm
2、材質:PMMA
4、操作程序:
1、放置在探測器上面，應用合適條件進行曝光。
2、模體上含有15行和15列方形區(qū)分布225個方格組成的矩陣，每個方格中前三行僅有1
個檢查點(成像點)，其他行有2個測點，1個在方格中央，另1個隨機分布在1個角落中，
共計405個地對比度。

  • 01/

    產(chǎn)品型號：定制

  • 02/

    廠商性質：生產(chǎn)廠家

  • 03/

    更新時間：2024-03-25

  • 04/

    訪問量：319
詳細內容/ Product Details
品牌京南雙玉產(chǎn)地國產(chǎn)

      低對比度檢測模體

產(chǎn)品編號：SY20240322-8低對比度檢測模體

產(chǎn)品廠家：廊坊玉雙儀器設備有限公司

產(chǎn)品介紹：技術參數(shù):

1、尺寸:265x265x10mm

2、材質:PMMA

4、操作程序:

1、放置在探測器上面，應用合適條件進行曝光。

2、模體上含有15行和15列方形區(qū)分布225個方格組成的矩陣，每個方格中前三行僅有1

個檢查點(成像點)，其他行有2個測點，1個在方格中央，另1個隨機分布在1個角落中，

共計405個地對比度。

3、檢查點的光密度比之均勻背景光密度高，檢測點深度和直徑早對數(shù)變化，直徑范圍:0.3-8.0mm，深度范圍:0.3-8.0mm(精度:0.01mm)

5、模體上所以標記不透明，X射線成像可見。

6、在觀片燈箱上觀察模體影像，記錄影像中可探測到的最小細節(jié)。

5、檢測技術依據(jù):

《計算機X射線攝影(CR)質最控制檢測規(guī)范》(WS520-2017)《數(shù)字X射線攝影(DR)系統(tǒng)控制質最檢測規(guī)范》(WS521-2017)

產(chǎn)品編碼：SY20240322-8低對比度檢測模體


 


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