綜合測(cè)試卡430

綜合測(cè)試卡430

測(cè)試卡定制銷售產(chǎn)品編號(hào)：20221223.10，主要用于檢驗(yàn)CR、DR-X 射線數(shù)字成像系統(tǒng)、數(shù)字影像的綜合測(cè)試；規(guī)格：430*350mm，標(biāo)尺分度值不大于2mm.

1.綜合測(cè)試體模主要用于檢驗(yàn)CR、DR-X 射線數(shù)字成像系統(tǒng)、數(shù)字影像的綜合測(cè)試，

符合JJG 1078-2012《數(shù)字?jǐn)z影（CR.DR)系統(tǒng)輻射源規(guī)程；
2.測(cè)試卡尺寸:430*350mm，標(biāo)尺分度值不大于2mm；
3.具備影像均勻性測(cè)試功能，并有測(cè)試點(diǎn)5 個(gè)；
4.提供了6 個(gè)不同厚度基質(zhì)的圓孔，以形成不同的影像灰度；
5.具備空間分辨力測(cè)試功能；
6.具備9 級(jí)楔形板的動(dòng)態(tài)測(cè)試。

x射錢窮透人依不同組織時(shí),X射線被吸收的程度不同,所以到這個(gè)質(zhì)上的X線量就有差異,形成展白對(duì)比不同的影像,為醫(yī)生的診斷提供依據(jù)。X射線是由能量的轉(zhuǎn)換而產(chǎn)生的。在使用X射線成像時(shí)，利用高能電子轟擊金屬靶面，產(chǎn)生x線。也就是說(shuō)，X射線是在X射線管中產(chǎn)生的。射線檢測(cè)系統(tǒng)分辨率和射線檢測(cè)圖像分辨率以及射線底片分辨率是考核成像系統(tǒng)質(zhì)量和圖像成像質(zhì)量的重要指標(biāo)，也是射線檢測(cè)設(shè)備和檢測(cè)圖像質(zhì)量驗(yàn)收的重要依據(jù)，限束器器采用三層葉片加防護(hù)筒進(jìn)行防護(hù)。從結(jié)構(gòu)上根本保證了X射線無(wú)散射的可能，是X射線防護(hù)的理想部件。需要用質(zhì)量檢測(cè)工具--線對(duì)卡，更多詳細(xì)信息和產(chǎn)品參數(shù)請(qǐng)咨詢：廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司。

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